應(yīng)用探究|不再高價(jià)低效！Covesion PPLN開(kāi)啟SWIR甲烷單光子檢測(cè)新時(shí)代可部署的溫室氣體檢測(cè)解決方案對(duì)于工業(yè)場(chǎng)所中的環(huán)境監(jiān)測(cè)至關(guān)重要。美國(guó)2024的一項(xiàng)研究表明，工業(yè)甲烷排放量是政府估計(jì)值的三倍，這對(duì)于環(huán)境和經(jīng)濟(jì)都有重大影響。單光子激光雷達(dá)技術(shù)為高靈敏度直接探測(cè)提供了一種途徑。許多溫室氣體分子，如甲烷，在中紅外（MIR）光譜區(qū)域具有基頻吸收帶，在短波紅外（SWIR）區(qū)域則具有倍頻吸收帶。然而，在這些波長(zhǎng)范圍內(nèi)，高效的單光子探測(cè)器選擇受限，超導(dǎo)納米線探測(cè)器（SNSPDs）需要大型低溫冷卻系統(tǒng)，不適用于許多現(xiàn)場(chǎng)的應(yīng)用。銦鎵砷單光子雪崩二極管（InGaAs SPAD）探測(cè)器廣泛用于短波紅外 ...

直播回顧：基于可重構(gòu)FPGA的并行IC測(cè)試驗(yàn)證解決方案隨著通信、數(shù)據(jù)處理等領(lǐng)域?qū)I芯片、RF芯片及硅光芯片等前沿芯片的性能要求不斷提高，芯片設(shè)計(jì)越發(fā)復(fù)雜，其驗(yàn)證測(cè)試環(huán)節(jié)面臨許多挑戰(zhàn)。例如，IC測(cè)試系統(tǒng)通常集成多品牌和類型電學(xué)測(cè)量?jī)x器，難以統(tǒng)一自動(dòng)化控制；混合信號(hào)測(cè)試方案復(fù)雜，成本高昂；前沿芯片對(duì)測(cè)量數(shù)據(jù)準(zhǔn)確性和校準(zhǔn)可追溯性的要求不斷提高。應(yīng)對(duì)這些挑戰(zhàn)，Liquid Instruments在11月25日舉辦了《基于可重構(gòu)FPGA的并行IC測(cè)試驗(yàn)證解決方案》線上研討會(huì)。會(huì)上，LI應(yīng)用專家Hank Long介紹了基于FPGA的Moku平臺(tái)在前沿IC芯片驗(yàn)證測(cè)試中的應(yīng)用與優(yōu)勢(shì)，并演示了如何利用 Mo ...

時(shí)間門控SPAD陣列與非視域成像中的關(guān)鍵散射特性研究非視域成像，旨在實(shí)現(xiàn)對(duì)視線之外隱藏物體的探測(cè)與重構(gòu)，是近年來(lái)光電探測(cè)領(lǐng)域的前沿焦點(diǎn)。這項(xiàng)技術(shù)借助于一個(gè)中介面（如墻壁、地面），通過(guò)捕獲從隱藏目標(biāo)反射并再次經(jīng)由中介面散射回來(lái)的微弱光信號(hào)，來(lái)“繞彎”看清拐角后的景物。在眾多技術(shù)路徑中，基于時(shí)間門控SPAD（單光子雪崩二極管）陣列的成像方法，因其具有凝視成像、高時(shí)間分辨率、設(shè)備集成度高等優(yōu)勢(shì)，被視為走向?qū)嵱没年P(guān)鍵技術(shù)之一。圖1：基于 TG-SPAD 陣列的非視域成像原理示意圖一、 技術(shù)核心：為何要研究中介面的散射特性？在非視域成像系統(tǒng)中，中介面并非理想的鏡子。當(dāng)光子攜帶隱藏目標(biāo)的信息返回中介面時(shí) ...

TiePie 示波器多應(yīng)用介紹——電、熱、力、通訊信號(hào)探測(cè)一、電阻與接觸測(cè)量使用萬(wàn)用表測(cè)電阻，只能測(cè)出某一瞬間值，有很多場(chǎng)景下靜態(tài)的測(cè)量很難得到正確的數(shù)據(jù)，需要進(jìn)行連續(xù)測(cè)量，例如：電位器在某個(gè)位置突然斷路，插頭在振動(dòng)下間歇性斷路，線束在彎折過(guò)程中接觸時(shí)斷時(shí)續(xù)，熱敏電阻在溫度變化過(guò)程中的阻值跳變。TiePie無(wú)線示波器可以持續(xù)的測(cè)量電阻，并繪制時(shí)間-阻值曲線。操作也非常簡(jiǎn)單，只需用測(cè)量線先短接做一次基準(zhǔn)測(cè)量，在 Gain / Offset 模塊里用 Neutralize 把線阻抵消掉，然后就可以開(kāi)始測(cè)量，實(shí)現(xiàn)邊操作被測(cè)件、邊觀察電阻波形。對(duì)連接器做振動(dòng)或溫度循環(huán)試驗(yàn)時(shí)，接觸電阻是否在某個(gè)工況下突 ...

高精度特斯拉計(jì)，配有薄型高分辨率三軸霍爾探頭摘要新型數(shù)字特斯拉計(jì)系統(tǒng)（又稱高斯計(jì)）集成了三軸霍爾探頭、基于旋轉(zhuǎn)電流技術(shù)的模擬電子元件、24位模數(shù)轉(zhuǎn)換器、計(jì)算機(jī)及7位數(shù)觸摸屏顯示器。該霍爾探頭采用單片硅芯片設(shè)計(jì)，集成有水平/垂直方向的霍爾磁傳感器和溫度傳感器?；魻杺鞲行酒庋b在堅(jiān)固的陶瓷外殼中，其厚度僅為250μ微米。旋轉(zhuǎn)電流技術(shù)有效消除了霍爾探頭偏移、低頻噪聲及平面霍爾電壓干擾。通過(guò)基于三變量二次多項(xiàng)式的校準(zhǔn)程序，消除了霍爾元件非線性誤差與探頭電子元件溫度變化帶來(lái)的影響。針對(duì)霍爾探頭角度誤差問(wèn)題，采用探頭靈敏度張量校準(zhǔn)方案徹底消除誤差。這些創(chuàng)新設(shè)計(jì)使新特斯拉計(jì)具備了測(cè)量1μ特斯拉至30特斯拉磁 ...

Moku:Delta開(kāi)放樣機(jī)試用！助力加速半導(dǎo)體器件測(cè)試驗(yàn)證流程半導(dǎo)體技術(shù)飛速發(fā)展，IC測(cè)試與驗(yàn)證的復(fù)雜性不斷增加。如今被測(cè)設(shè)備（DUT）涉及模擬、數(shù)字和混合信號(hào)領(lǐng)域，高度集成 ADC/DAC、運(yùn)放、控制環(huán)路和 DSP 等，使測(cè)試任務(wù)在精度、時(shí)序控制和功能覆蓋上變得更加復(fù)雜且要求更高。因此，傳統(tǒng)測(cè)試系統(tǒng)的配置不斷擴(kuò)大，包含示波器、波形發(fā)生器、頻譜分析儀、頻率響應(yīng)分析儀、邏輯分析儀等多個(gè)儀器，這些設(shè)備通常來(lái)自不同供應(yīng)商，自動(dòng)化程度和配置要求差異較大，工程師需要額外編寫(xiě)程序并通過(guò)電纜連接它們。雖然這種傳統(tǒng)的分立式測(cè)試方案能夠滿足當(dāng)前的測(cè)試需求，但也意味著需要投入大量配置時(shí)間、維護(hù)校準(zhǔn)精力和經(jīng)濟(jì)成本 ...

全新升級(jí)MokuOS 4.0，簡(jiǎn)化跨設(shè)備平臺(tái)協(xié)同交互Liquid Instruments推出全新用戶操控系統(tǒng)MokuOS 4.0，通過(guò)一套統(tǒng)一化的操控系統(tǒng)將Moku全系列產(chǎn)品的圖形化操作軟件、固件和API整合到同一操控平臺(tái)，實(shí)現(xiàn)Windows、macOS、iPadOS和visionOS跨平臺(tái)兼容。此次升級(jí)不僅包括全新儀器功能提升儀器性能，還對(duì)APIs以及Moku云編譯優(yōu)化，為用戶帶來(lái)更強(qiáng)大高效的測(cè)量實(shí)驗(yàn)平臺(tái)。新系統(tǒng)全面支持Moku:Pro、Moku:Lab、Moku:Go及2GHz帶寬和8通道的新高性能型號(hào)Moku:Delta。歡迎聯(lián)系昊量光電，立即下載MokuOS 4.0，免費(fèi)體驗(yàn)全新功能。 ...

《精準(zhǔn)量子比特控制和讀取》白皮書(shū)在上篇客戶案例中，我們分享了德國(guó)馬普高分子研究所團(tuán)隊(duì)如何利用 NV 色心構(gòu)建高靈敏度的磁力計(jì)，案例展示了量子比特相干穩(wěn)定性在實(shí)驗(yàn)中的關(guān)鍵作用。要進(jìn)一步加深理解量子比特的基本與控制方法，我們推薦您閱讀新發(fā)布的白皮書(shū)《量子系統(tǒng)與量子比特控制》，歡迎聯(lián)系昊量光電索取完整版。文章首先介紹了以二能級(jí)系統(tǒng)為基礎(chǔ)的量子比特模型，說(shuō)明了如何用哈密頓量和時(shí)間演化來(lái)描述其物理特性。在此基礎(chǔ)上，白皮書(shū)引入 Bloch 球這一幾何化工具，使研究者能夠更直觀地理解量子態(tài)的相干演化過(guò)程，以及驅(qū)動(dòng)場(chǎng)如何在旋轉(zhuǎn)參考系中對(duì)量子比特實(shí)現(xiàn)精確控制。白皮書(shū)第二步部分重點(diǎn)討論了幾類用于表征和操控量子比特 ...

用角分辨光譜法表征極化子摘要：在本文中，我們描述Iceblink超連續(xù)光源在用角分辨光譜法表征極化子技術(shù)中的應(yīng)用。在這種技術(shù)中，樣品被光擊中并射出一個(gè)電子。通過(guò)測(cè)量該電子的發(fā)射角度和動(dòng)能，研究人員可以看到由于能量狀態(tài)不同而導(dǎo)致的上下極化子數(shù)量的差異。用于該技術(shù)的裝置由光源（根據(jù)需要的測(cè)量變化的激光器），將光聚焦到樣品中的物鏡，二向鏡（因?yàn)闃悠返陌l(fā)射來(lái)自同一物鏡）和用于測(cè)量電子特性的光譜儀組成[圖1]。圖1：角度分辨光譜的設(shè)置在這種類型的技術(shù)中很常見(jiàn)，根據(jù)所使用的光源，您可以看到樣品的不同方面。在這個(gè)特殊的實(shí)驗(yàn)中，在不同的樣品中使用了許多光源，以確保完全理解改變腔的Q系數(shù)的影響；但其中用途zui ...

案例分享|PPLN在頻率片編碼的糾纏量子密鑰分發(fā)中的應(yīng)用簡(jiǎn)介：我們以前分享過(guò)《基于time-bin量子比特的高速率多路糾纏源——PPLN晶體應(yīng)用》，探討了PPLN在時(shí)間片QKD中的應(yīng)用。時(shí)間-能量糾纏雖是PPLN基礎(chǔ)的產(chǎn)生形式，但也可以通過(guò)“加工”獲得各種糾纏自由度。近期德國(guó)漢諾威萊布尼茨大學(xué)的Michael Kues及其研究團(tuán)隊(duì)在國(guó)際權(quán)威期刊《Light: Science & Applications》發(fā)表了一項(xiàng)突破性研究，題為“Frequency-bin-encoded entanglement-based quantum key distribution in a reconfi ...