解釋
中文:掃描探針顯微鏡;英文:scanning probe microscope / SIM的原理;中文:掃描探針顯微鏡;英文:scanning probe microscope / SIM的定義;中文:掃描探針顯微鏡;英文:scanning probe microscope / SIM是什么。
基于掃描隧道顯微鏡的基本原理設(shè)計(jì)出的超近掃描高分辨率顯微鏡。分辨率可達(dá)納米級(jí),并可將觀察的原子或分子形成三維圖像,是原子力顯微鏡(AFM)、激光力顯微鏡 (LFM)、磁力顯微鏡(MFM)等的統(tǒng)稱。